Metodo di imaging risolto nel tempo ad alta risoluzione spaziale

Data di pubblicazione

08-09-2021

Codice

DEIB.18.005.A

Stato

Licenziato

Data di priorità

25-01-2018

Fase

Nazionale (brevetto concesso), Regionale (EP) e Internazionale (PCT)

Titolare

Politecnico di Milano, Istituto Italiano di Tecnologia, Università degli Studi di Genova

Dipartimento

DIPARTIMENTO DI ELETTRONICA, INFORMAZIONE E BIOINGEGNERIA

Autori

Alberto Tosi, Mauro Buttafava, Federica Villa, Paolo Bianchini, Alberto Diaspro, Colin, J R Sheppard, Giorgio Tortarolo, Marco Castello, Giuseppe Vicidomini

Descrizione

L'invenzione riguarda un nuovo metodo di imaging per microscopia ottica, in grado di acquisire immagini con elevata risoluzione temporale e/o di intensità, completamente compatibile con i microscopi a scansione laser confocali esistenti.

L'invenzione riguarda un nuovo metodo di imaging per microscopia ottica, in grado di acquisire immagini con elevata risoluzione temporale e / o di intensità. Il metodo si basa sull'elaborazione delle immagini registrate da un microscopio a scansione di immagini (ISM) in cui il rivelatore a matrice viene implementato utilizzando un nuovo array di SPAD (Single-Photon Avalanche Diode). In dettaglio, l'invenzione riguarda: 1) il metodo per ottenere un'immagine ad rae / o di intensità da un sistema ISM senza richiedere un intenso lavoro da parte dell'utente del microscopio; 2) l'architettura del relativo sistema di imaging al microscopio.

Campo di applicazione

<p> <ul> <li> Image-Scanning Microscopy ad alta risoluzione; </li> <li> Fluorescence Lifetime Imaging ad alta risoluzione; </li> <li> STED e microscopia a due fotoni. </li> </ul> </p>

Vantaggi

<p> <ul> <li> Acquisizione di immagini ad alta risoluzione; </li> <li> Alto rapporto segnale-rumore; </li> <li> Compatibilità con microscopi commerciali; </li> <li> Acquisizione di immagini con risoluzione temporale; </li> <li> Basso carico computazionale. </li> </ul> </p>

Stadio di sviluppo

Prototipo funzionante

Contatto

licensing.tto@polimi.it

PER DOMANDE