Sistema e metodo di osservazione di un dispositivo ottico
Data di pubblicazione
21-10-2021Codice
DEIB.20.082.AStato
DisponibileData di priorità
08-06-2021Fase
Nazionale (domanda brevetto italiano)Titolare
Politecnico di MilanoDipartimento
DIPARTIMENTO DI ELETTRONICA, INFORMAZIONE E BIOINGEGNERIAAutori
Andrea Melloni, Francesco Morichetti, Maziyar Milanizadeh, Matteo PetriniDescrizione
L’invenzione riguarda una tecnica per il testing/sintonizzazione/monitoraggio/controllo di un dispositivo ottico.
L’idea inventiva risiede in un metodo innovativo che permette di individuare, per un determinato dispositivo ottico che si vuole testare e/o monitorare e/o controllare, un set di parametri misurabili (la cui valutazione è poco onerosa in termini di tempo e risorse computazionali) che forniscono un’informazione equivalente ad una metrica tipicamente più utilizzata ma più onerosa da utilizzare.
Ad esempio, relativamente al testing e alla sintonizzazione di filtri selettivi in frequenza, le soluzioni presenti allo stato dell’arte si basano sulla misura della risposta spettrale del dispositivo, la banda di lavoro, che viene confrontata con una maschera di riferimento o con la risposta spettrale di un filtro prototipo. Il metodo proposto permette di evitare la misura dell’intera risposta spettrale del filtro e di poterne classificare il comportamento sulla base della misura della risposta ad alcune frequenze notevoli o in alcune sottobande della banda di riferimento.